光電硬件
Wavelab Beamfiler 光斑分析儀
Wavelab Beamfiler 光斑分析儀
光斑分析儀可實(shí)現(xiàn)激光光斑檢測(cè)及測(cè)試應(yīng)用,為客戶提供定制光束質(zhì)量分析一體化設(shè)計(jì)解決方案,并支持多應(yīng)用開發(fā)。通過光束分析裝置一體化設(shè)計(jì),配套衰減方案設(shè)計(jì),支持實(shí)時(shí)曝光及增益調(diào)節(jié)??筛鶕?jù)客戶不同需求進(jìn)行模塊化定制,適用于工業(yè)激光,光纖通訊、顯示面板、打標(biāo)焊接、3D打印、半導(dǎo)體,激光傳感等領(lǐng)域。目前已作為成熟產(chǎn)品在市場(chǎng)推廣,性價(jià)比高,得到多個(gè)行業(yè)的客戶廣泛認(rèn)同。
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產(chǎn)品特點(diǎn) 1.可選超寬光譜多波長系列產(chǎn)品,覆蓋紫外到長波紅外波長范圍。 2.較寬的光斑直徑測(cè)量范圍:光斑直徑范圍可滿足目前市場(chǎng)大部分的光斑產(chǎn)品范圍,部分產(chǎn)品支持更小光斑拓展。 3.光斑分析儀一體化設(shè)計(jì),配套衰減方案設(shè)計(jì):設(shè)備自帶吸收衰減裝置,可檢測(cè)到毫瓦級(jí)別的激光光斑,可根據(jù)不同功率激光光斑測(cè)試需求,提供可選的衰減方案,無需準(zhǔn)備其他配件即可快速測(cè)量。 4.軟件自主開發(fā),可提供底層通訊協(xié)議。 5.高性價(jià)比,可代替進(jìn)口激光光束質(zhì)量分析儀,實(shí)現(xiàn)激光光斑檢測(cè)及測(cè)試應(yīng)用。 6.需求定制:可為客戶定制不同需求的光斑分析儀,滿足不同的激光光束直徑、形狀和激光功率測(cè)試需求。 |
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