準確可靠的光學鍍膜紅外光譜測量是當今最嚴峻的挑戰(zhàn)之一。世界各地的光學制造商為其平面光學元件指定了越來越復雜的紅外鍍膜，專注于更好地檢測和識別遠距離物體。通常，獲得光學鍍膜的生產(chǎn)能力遠遠領先于現(xiàn)有的質(zhì)量認證計量能力。

PHOTON RT 7512?分光光度計是一款專為有效應對這些挑戰(zhàn)而設計的獨特儀器。該儀器可以測量為 LWIR 設計的涂層的透射和反射。PHOTON RT 7512 的一個無與倫比的功能是能夠在偏振光下以高達 60 度的可變?nèi)肷浣沁M行自動測量。內(nèi)置功能支持這些重要的測試，該功能可準確補償高角度下的光束位移，并確保在短短幾分鐘內(nèi)獲得 S-pol 和 P-pol 結果。樣品的最大厚度可達創(chuàng)紀錄的 40 毫米。

主要優(yōu)勢：

色散分光光度計

在正常和可變 AOI 下進行高精度測量

內(nèi)置高對比度濾鏡

極低的噪音測量

全自動運行

有效的信噪比管理

RT7512分光光度計

光學配置

0°-60°入射角測量

10°，30°，45°，60°

參考樣品：金鏡

HgAr波長校驗燈

樣品倉

接口，尺寸和重量

凈重，kg

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