Wavelab OPTINSPEC 測量工具
圖像尺寸測量儀
圖像尺寸測量儀
OptiNspec-AMF105
AMF105系列圖像尺寸測量儀采用雙倍率、雙遠(yuǎn)心高分辨率光學(xué)鏡頭和多類型機(jī)器視覺光源補(bǔ)光拍攝,并結(jié)合高精度圖像分析算法,軟件界面簡潔、設(shè)計(jì)有一件閃測功能。只需按下啟動(dòng)鍵,儀器即可根據(jù)工件的形狀自動(dòng)定位測量對象、匹配模板、測量評價(jià)、報(bào)表生成,真正實(shí)現(xiàn)一鍵式快速精準(zhǔn)測量。 產(chǎn)品特色: 1. 配備大小兩個(gè)視野的工業(yè)遠(yuǎn)心鏡頭,同時(shí)兼顧大尺寸和高精度測量的需求; 2. 高精度XY位移平臺(tái),重復(fù)定位精度±1um,定位掃描精度高; 3. 高精度對焦模組,成像更清晰、更穩(wěn)定; 4. 多種光源模式可選,可根據(jù)不同產(chǎn)品選擇最合適的補(bǔ)光方案; 5. 軟件界面操作簡單,便于員工學(xué)習(xí)與操作;; 6. 可自動(dòng)化批量檢測(需定制自動(dòng)上下料結(jié)構(gòu)); 7. 可生成測試報(bào)告,匯總測試數(shù)據(jù); 8.軟件含有表面缺陷檢測特色功能,可檢測毛刺、刀紋等不良缺陷。 |
? | ![]() |